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膜厚仪

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设备名称 膜厚仪   品牌型号ST2000-DLXn

设备用途
测量氧化硅、氮化硅等材料的薄膜厚度

主要技术指标：
测量尺寸：≤ 4inch
测量范围： 20nm -5000nm

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